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Statistica per applicazioni in microscopia e telerilevamento

Statistica per applicazioni in microscopia e telerilevamento

di Ivan Sciascia (Autore)

Nel libro sono affrontati diversi casi studio di analisi di immagini digitali. Con l’applicazione di metodi di elaborazione di immagine e di analisi statistica vengono affrontate ricerche che, partendo dalla descrizione di una immagine come griglia di pixel, attraverso tecniche di segmentazione, portano ad una migliore comprensione di strutture e processi osservati nelle immagini digitali.

Informazioni editoriali

Data di uscita
2020
Editore
Youcanprint
Pagine
260
ISBN
ISBN
9788831683234

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